微电子计量测试技术
基本信息·页码：227 页 ·出版日期：2009年05月 ·ISBN：7561225164 ·条形码：9787561225165 ·包装版本：1 ·装帧：平装 产品信息有问题吗？请帮我们更新产品
基本信息·出版社：北京航空航天大学出版社 ·ISBN：9787512400412 ·条形码：9787512400412 ·版本：1 ·装帧：其他 产品信息有问题吗？请帮我们更新产品信息。
旋光计量测试技术作者： 丁海铭编著 出 版 社： 中国计量出版社 出版时间： 2009-6-1字数：版次： 1页数： 213印刷时间：开本： 16开印次： 1纸张：I S B N ： 9787502630416
电解质分析与计量测试技术作者： 丁海铭，吴国强主编 出 版 社： 中国计量出版社 出版时间： 2009-6-1字数：版次： 1页数： 274印刷时间：开本： 16开印次： 1纸张：I S B N ： 978750263
基本信息出版社:机械工业出版社; 第1版 (2012年4月1日)平装:231页正文语种:简体中文开本:16ISBN:7111372182, 9787111372189条形码:9787111372189
基本信息出版社:清华大学出版社; 第1版 (2010年10月1日)平装ISBN:9787302235026条形码:9787302235026ASIN:B004AHKJ1O
模拟CMOS集成电路设计(微电子与集成电路技术丛书)基本信息·出版社：清华大学出版社 ·页码：304 页 ·出版日期：2010年03月 ·ISBN：9787302211464 ·条形码：9787302211464 ·版本：第1版 ·装帧：平装 ·开本
微电子制造技术概论基本信息·出版社：清华大学出版社 ·页码：164 页 ·出版日期：2010年03月 ·ISBN：9787302208181 ·条形码：9787302208181 ·版本：第1版 ·装帧：平装 ·开本
模拟集成电路与系统（清华大学信息科学技术学院教材——微电子光电子系列）作者： 池保勇编著 出 版 社： 清华大学出版社 出版时间： 2009-7-1字数：版次： 1页数： 562印刷时间：开本： 16开印次： 1纸张：I S B N ： 9787302198772
微电子机械加工系统(MEMS)技术基础基本信息·出版社：冶金工业出版社 ·页码：194 页 ·出版日期：2009年 ·ISBN：7502447946 ·条形码：9787502447946 ·包装版本：1版 ·装帧：平装 ·开本：32 ·