集成电路系统设计、验证与测试
集成电路系统设计、验证与测试作者： （美）Louis Scheffer等著 出 版 社： 科学出版社 出版时间： 2008-6-1字数： 807000版次： 1页数： 475印刷时间： 2008/06/01开本： 16开印次：
系统测试性设计分析与验证作者： 田仲 等编著 出 版 社： 北京航天航空大学出版社 出版时间： 2003-4-1字数： 691000版次： 1页数： 415印刷时间： 2009-9-1开本： 16开印次： 3纸张： 胶版纸
基本信息·出版社：科学出版社 ·出版日期：2010年05月 ·ISBN：9787030276094 ·条形码：9787030276094 ·版本：第1版 ·装帧：平装 产品信息有问题吗？请帮我们
数字集成电路:电路、系统与设计(第2版)基本信息·出版社：电子工业出版社 ·出版日期：2004年 ·ISBN：712100383X ·条形码：9787121003837 ·包装版本：2版 ·装帧：平装 ·正文语种：中文 产品信息有问题
用Spec C作系统设计（VHDL与集成电路设计丛书）作者： （美）格斯劳尔（Gerstlauer，A.）等著，边计年，薛宏熙等译 出 版 社： 清华大学出版社 出版时间： 2008-1-1字数： 312000版次： 1页数： 260印刷时间： 2008
集成电路与系统设计、功率与定时建模、优化与模拟： PATMOS 2006/会议录 Integrated circuit and system design作者： Johan Vounckx，Nadine Azemard，Philippe Maurine 著 出 版 社： 湖北辞书出版社 出版时间： 2006-12-1字数：版次： 1页数： 677印刷
基本信息平装ISBN:9787302230724条形码:9787302230724ASIN:B003XT6O64
Verilog 数学系统设计--RTL综合.测试平台与验证(第二版)(国外电子与通信教材系列)基本信息·出版社：电子工业出版社 ·页码：316 页 ·出版日期：2007年 ·ISBN：9787121052415 ·条形码：9787121052415 ·包装版本：2007年11月第1版 ·装帧
Verilong数字系统设计——RTL综合、测试平台与验证（英文版）（附光盘）作者： （美）纳瓦毕（Navabi,Z.）著，夏宇闻改编 出 版 社： 电子工业出版社 出版时间： 2007-11-1字数： 470000版次： 1页数： 316印刷时间： 2007/11/01开本：
Verilog数字系统设计——RTL综合、测试平台与验证（第二版）（附光盘）作者： （美）纳瓦毕著，李广军等译 出 版 社： 电子工业出版社 出版时间： 2007-8-1字数： 515000版次： 1页数： 274印刷时间： 2007/08/01开本：印次：纸张： 胶版纸I
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