材料分析测试技术——材料X射线衍射与电子显微分析（第2版）
作者： 出 版 社： 哈尔滨工业大学出版社 出版时间： 2007-8-1字数：版次：页数：印刷时间：开本：印次：纸张：I S B N ： 9787560313382包装：
X射线衍射分析技术作者： 晋勇，孙小松，薛屺编著 出 版 社： 国防工业出版社 出版时间： 2008-7-1字数：版次： 1页数： 302印刷时间：开本： 16开印次： 1纸张：I S B N ： 9787118
材料微观结构的电子显微学分析\黄孝瑛作者： 黄孝瑛著 出 版 社： 冶金工业出版社 出版时间： 2008-4-1字数： 739000版次： 1页数： 619印刷时间： 2008/04/01开本： 16开印次： 1纸张： 胶版纸I S B
微束分析 扫描电子显微术 术语作者： 本社 主编 出 版 社： 出版时间： 2009-7-1字数： 54000版次： 1页数： 26印刷时间： 2009-7-1开本： 大16开印次： 1纸张： 胶版纸I S B N ： G
冶金材料分析技术与应用\曹宏燕作者： 曹宏燕主编 出 版 社： 冶金工业出版社 出版时间： 2008-9-1字数： 1643000版次： 1页数： 1062印刷时间： 2008/09/01开本： 16开印次： 1纸张： 胶版纸I
材料现代分析与测试技术基本信息·出版社：国防工业出版社 ·页码：304 页 ·出版日期：2010年01月 ·ISBN：9787118063486 ·条形码：9787118063486 ·版本：第1版 ·装帧：平装 ·开本
基本信息平装ISBN:YS/T 644-2007条形码:YS/T 644-2007ASIN:B003YKH27W
铂钌合金薄膜测试方法X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量作者： 出 版 社： 中国标准出版社 出版时间： 2007-7-1字数：版次：页数：印刷时间：开本：印次：纸张：I S B N ： YS/T644-2007包装：
作者： 出 版 社： 中国标准出版社 出版时间： 2007-7-1字数：版次：页数：印刷时间：开本：印次：纸张：I S B N ： YS/T644-2007包装：
铂钌合金薄膜测试方法X射线光电子能谱法测定合金态铂及合金态钌含量作者： 本社 编 出 版 社： 出版时间： 2007-7-1字数： 6000版次： 1页数： 2印刷时间： 2007/07/01开本：印次：纸张： 胶版纸I S B N ： YS/T644-20
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