微纳米MOS器件可靠性与失效机理
微纳米MOS器件可靠性与失效机理作者： 郝跃，刘红侠 著 出 版 社： 科学出版社 出版时间： 2008-3-1字数： 546000版次： 1页数： 446印刷时间： 2008/03/01开本： 16开印次： 1纸张： 胶版纸I
铁路信号可靠性与安全性作者： 程荫杭主编 出 版 社： 中国铁道出版社 出版时间： 2010-3-1字数： 251000版次： 1页数： 182印刷时间： 2010-3-1开本： 16开印次： 1纸张： 胶版纸I S B
可靠性与维修性工程作者： 陈云翔 主编 出 版 社： 国防工业出版社 出版时间： 2007-11-1字数： 440000版次： 1页数： 282印刷时间： 2007/11/01开本： 16开印次： 1纸张： 胶版纸I
计算机安全、可靠性与保密： SAFECOMP 2006/会议录LNCS-4166: Computer safety, reliability, and security作者： Janusz Górski著 出 版 社： 湖南文艺出版社 出版时间： 2006-12-1字数：版次： 1页数： 438印刷时间： 2006/12/01开本：印次：纸张： 胶版纸I S B N
软件可靠性、安全性与质量保证作者： 黄锡滋 编著 出 版 社： 电子工业出版社 出版时间： 2002-10-1字数： 420000版次： 1页数： 249印刷时间： 2002/10/01开本：印次：纸张： 胶版纸I S B N
作者： 孙桂林 出 版 社： 化学工业出版社 出版时间：字数：版次：页数：印刷时间：开本：印次：纸张：I S B N ： 9787502516215包装：
作者： 孙桂林 出 版 社： 化学工业出版社 出版时间：字数：版次：页数：印刷时间：开本：印次：纸张：I S B N ： 9787502516215包装：
基本信息出版社:科学出版社; 第1版 (2010年7月22日)平装ISBN:9787030281555条形码:9787030281555ASIN:B003XT7GCU
液压可靠性与故障诊断(第2版)\湛从昌作者： 湛从昌，傅连东，陈新元编著 出 版 社： 冶金工业出版社 出版时间： 2009-8-1字数： 449000版次： 2页数： 283印刷时间： 2009-8-1开本： 16开印次： 2纸张： 胶
分子器件与分子机器:纳米世界的概念和前景(原著第2版)(当代化学译丛)基本信息·出版社：华东理工大学出版社 ·页码：490 页 ·出版日期：2009年08月 ·ISBN：9787562826101 ·条形码：9787562826101 ·包装版本：第2版 ·装帧：平装