光学防伪检测技术
光学防伪检测技术作者： 刘铁根主编 出 版 社： 电子工业出版社 出版时间： 2008-1-1字数： 652000版次： 1页数： 450印刷时间： 2008/01/01开本： 16一印次：纸张： 胶版纸I S B
现行光学元件检测与国际标准作者： 徐德衍等编著 出 版 社： 科学出版社 出版时间： 2009-7-1字数： 386000版次： 1页数： 302印刷时间： 2009-7-1开本： 16开印次： 1纸张： 胶版纸I S B N
现代光学薄膜技术基本信息·出版社：浙江大学出版社 ·页码：492 页 ·出版日期：2006年 ·ISBN：7308049779 ·条形码：9787308049771 ·包装版本：第1版 ·装帧：平装 ·开本：16开
光学薄膜技术——高等学校规划教材作者： 卢进军，刘卫国编著 出 版 社： 西北工业大学出版社 出版时间： 2008-5-1字数： 303000版次： 1页数： 194印刷时间： 2008/05/01开本： 16开印次： 3纸张： 胶
基本信息出版社:中国铁道出版社; 第1版 (2012年3月1日)平装:436页正文语种:简体中文开本:16ISBN:9787113141127, 7113141129条形码:9787113141127
基本信息出版社:机械工业出版社; 第1版 (2012年4月1日)平装:361页正文语种:简体中文开本:16ISBN:7111372166, 9787111372165条形码:9787111372165
基本信息出版社:中国电力出版社; 第1版 (2012年3月1日)平装ISBN:155123583条形码:155123583商品尺寸:22.8 x 16.8 x 1.4 cm商品重量:318 g品牌:中
基本信息出版社:天津大学出版社; 第1版 (2012年3月29日)平装ISBN:9787561842959条形码:9787561842959商品尺寸:25.6 x 18 x 0.8 cm商品重量:28
基本信息出版社:机械工业出版社; 第1版 (2012年3月29日)平装:290页ISBN:7111370686, 9787111370680条形码:9787111370680商品尺寸:25.4 x 1
基本信息平装ISBN:155066140181条形码:155066140181ASIN:B0047DXF94