缺陷密度度量(DD) 是除了代码行(LOC)度量之外在业界应用最广的度量方法之一。缺陷密度度量定义如下: DD = Defects (K)LOC Defects是软件发行以
如果违反下述缺陷(Defects )与代码行((K)LOC )的关系,缺陷密度度量就会出现问题。 Defects = a LOC**b, with a>0, b>1.
近年来,面向对象技术已经作为一种有优势的软件工程方法出现。和其他许多新技术一样,面向对象方法的出现使得软件开发人员和他们的经理们必须重新考虑估计他们开发项目的方法。传统的软件度量技术即使进行改善也无法
1.备忘录状态 本备忘录给互联网社会提供信息。它没有明确任何种类的互联网标准。不限制对本备忘 录的分发和散布。 2. 版权通告 Copyright?TheInternetSociety(1998).A
[url=http://www.wangchao.net.cn/shop/redir.html?url=http%3A%2F%2Fai.m.taobao.com%2Fsearch.html%3Fq%3
[url=http://www.wangchao.net.cn/shop/red
报价¥14.70[url=http://www.wangchao.n
在使用office软件编辑文档时,我们经常要使用“磅”、“像素”、“毫米”、“厘米”、“英寸”等几种度量单位,了解这些度量单位以及他们的相互关系,将有助于我们更灵活地处理文档。 一、默认
[url=http://www.wangchao.net.cn/shop/redir.html?url=http%3A%2F%2Fai.m.taobao.com%2Fsearch.ht
诺基亚N系列机型由于市场关注率较高,开始连续推出配置升级的双胞胎机型。从N70到N93,不同的外观颜色,大同小异的性能配备,令N系列队伍越来越壮大。因此,诺基亚N95也随波逐流推出了8GB容量黑色